光纤损耗测试方法及其注意事项(2)

      3.1 改进的测试方法B
      方法B的简单改进使得我们能够保持原来的精度(每次测量都包括光缆以及两端的接头，同时又避免了上述的缺陷。改进后的方法B，在设置参考时使用两条连接光缆和一个连接适配器，与方法A类似，然而，测试时的连接方式与方法A不同。

     以测试两端都是MT-RJ连接器的一对光纤为例（仪表提供的接口为SC）。设置基准时，如下图所示。使用了一个双工MT-RJ连接器和四根SC——MT-RJ的短跳线。

      测试时，断开连接器的一端，接入被测光纤，同时引入了额外的一对短测试跳线（MT-RJ——MT-RJ，通常30cm或更短），如下图所示。

    容易看出，这样测试的结果和方法B测得的结果一样，测试结果包括光缆和两端连接器的损耗（MT-RJ——MT-RJ短测试跳线的损耗忽略不计）。

     与测试方法B的一致性
     改进的方法B和原来的方法B相比，有以下几点好处，并且保持了测试结果的一致性：

改进的方法B所得到的损耗测量结果和ANSI/TIA/EIA-526-14A中的方法B是一致的。根据方法B，可以正确地测量链路的损耗，测试时的链路比设置基准时的链路多出两个适配器。使用这种方法测量的损耗是链路中光缆以及链路两端连接器的损耗之和。
改进方法B，让我们可以方便测试不同接口类型的链路，而不受仪表本身接口的限制。而且改进的方法B，使得不需要在测试仪器接口处断开光纤，从而减少了由于重复插拔所导致的污染误差和对测试仪器的光接口的磨损。
解决了测试带有SFP双工连接器的光纤链路的复杂问题。

     3.2 测试方法变通
      事实上，实际的被测链路千差万别。上面介绍的测试方法，在有些情况下，就没法进行了。比如：要测试一条两端连接器类型不同的链路（如：一端带LC 连接器，另一端为MT-RJ连接器），就无法实现了。这时怎么办呢，其实只要稍做变通就可以了。

      现在以测试一对“一端是LC 连接器，另一端为MT-RJ连接器”的光纤链路为例（仪表提供的接口为SC），加以说明。

      这种链路用以上的方法都无法直接测试。于是我们要将这种链路稍加变通，让它变成可以用上述方法测试的链路。最直接的方法就是两端分别加上短跳线，从而变成方法C适用的链路。这里，我们在一端加上LC——SC的跳线，另一端加上MT-RJ——SC的跳线，变通之后，问题就变成测试一对SC——SC的链路，显然可以用方法C来测试。

      于是，设置参考值时，其连接方式如下图上半部分，这是典型的方法C设置基准的方式。而测试时，只要将变通后的链路当成一个整体，按照方法C的步骤将被测链路接入进来即可。

      注意到，测试结果中，除了原来的被测链路之外，还包括了两端增加的短跳线的损耗，由于短跳线的损耗很小，可以忽略不计。

     其实，通过这种变通的方法，我们可以解决绝大多数光纤链路，是一种非常实用的方法。思路都是一样的，那就是通过增加短跳线来转化成方法C的测试问题。

     细心的读者难免会问，为什么要两端都加跳线呢，只在一端加跳线行不行。回答是肯定的。比如，我们可以LC连接器一端，增加LC——MT-RJ跳线，因而就变成测试这样一条链路：一端是MT-RJ连接器，另一端是MT-RJ接头。显然我们可以用方法A来测试。测试结果和原来的链路有一根短跳线的误差，可以忽略不计。

     归纳起来，不论对于什么类型的链路，我们都可以通过增加跳线的方式，将其转化成方法A或方法C来进行测试。至于增加什么样的跳线，有一个原则要注意，那就是：增加短跳线后，两端的接头或连接器要一致，而且尽可能在一端加跳线，而不是两端都加。

     另外，要特别提醒的是，只能增加跳线，而不能增加连接器来转化问题，因为连接器引入的损耗太大，不能忽略不计。

     3.3 测试方法的选择
      光纤链路的测试方法我们介绍了好几种，步骤都是一样的，即先设置参考值，再测试。不同的方法，要选择合适的连接方式设置参考值，并且确保设置参考值后，能方便地将被测链路加进来，测试出准确的损耗。为了便于选择，本人编制了下表，供参考。

      总而言之，当我们要测试一条光纤链路时，要考虑的三个因素是：

两端连接器的个数
连接类型是否相同
连接类型是否与仪表的接口匹配。
      根据这个三个因素，参照上表，即可选择合适的测试方法。

      4 注意事项
      相对于双绞线的测试，光纤链路的测试更为复杂一些。除了要熟悉上述的测试方法外，还要注意以下事项：

首先，对于不同的光纤链路，单模或多模，相应地，要选用单模或多模仪表。 (责任编辑：仪器仪表热成像专家)