牛津仪器推出手持式硅漂移探测器X射线荧光分析仪

　　  新的  X  射线荧光  (XRF)  分析仪  X-MET5100  将手持式仪器的分析性能提高到全新水平。 
 
  　　X-MET5100  将牛津仪器的硅漂移探测器  (SDD)  和强大的  45  千伏  X  射线管结合起来，显示了仪器设计上的革命性突破。这种尖端技术提供了快速、高精度的测量，并且无需借助复杂的真空泵或氦气罐等附属设备就可以对镁、铝、硅等轻元素进行测量，这实在是手持式  X  射线荧光  (XRF)  分析的一大飞跃。 
 
  　　PMI  检测行业、废旧金属回收行业、特别是航空工业终于拥有了他们一直期待的坚固的便携式  XRF  轻元素测试工具。X-MET5100  保证了铝及钛合金的实验室质量分析的精确性，它对检测铜、镍和钢等金属材料中含有的轻金属元素时的敏感性也是无与伦比的。 
 
  　　硅漂移探测器  (SDD)、45  千伏  X  射线管和经验系数分析方法的强大结合，意味着  X-MET5100  可以在短短  1  秒钟内，准确地分析和确定金属合金成分。受限物质（重金属元素）、玩具中的铅、土壤中的污染物和矿石中的微量物质可以得到准确测量，其速度之快，在从前是绝无可能的。在几秒钟之内，就可以得到  ppm  级的痕量元素检测结果。X-MET5100  无与伦比的速度和准确性确保了高效可靠的实时检测结果。 
 
  　　X-MET5100  是牛津仪器用于日常多元素分析的  X-MET5000  的升级产品，后者于今年早些时候成功推出。这两款仪器都符合  IP54  (NEMA  3)  防尘防水认证要求，能够承受最苛刻的工作条件。 
 
  　　X-MET5100  已于  9  月在拉斯维加斯国际钛展览会和德国埃森世界铝贸易博览会上成功展出。预计将于2008  年11  月11  日至13  日在北京国际会议中心举行的2008（第五届）  中国矿业博览会上首次在中国展出。