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美国仪器NI PXI-2514故障注入单元

2015-01-27 11:13 作者:admin 来源:容祺电子 浏览: 字号:

摘要:NI PXI-2514 7通道, 40 A故障注入单元 (FIU) NI PXI-2514故障注入单元(FIU)的设计,适合硬件在环(HIL)应用和电子可靠性测试。每个模块具有一系列馈通通道,在关闭状态下使得开关对于系统是透明的。

NI PXI-2514

7通道, 40 A故障注入单元 (FIU)

NI PXI-2514故障注入单元(FIU)的设计,适合硬件在环(HIL)应用和电子可靠性测试。每个模块具有一系列馈通通道,在关闭状态下使得开关对于系统是透明的。用户可打开或中断连通两条故障总线其中一条的通道,每条故障总线的多路复用器均配备4种可能的输入。

用户可使用这种架构仿真断开或被中断的连接以及管脚之间的短路、针对电池电压的短路和针对各路通道上的对地短路。被NI LabVIEW Real-Time模块控制时,该FIU非常适合验证控制系统的可靠性,如:引擎控制单元(ECU)、全权数字引擎控制器(FADEC),以及更多其他需要带动高达40 A负载的应用。

仿真开路, 管脚间短路 (pin-to-pin), 对电池短路, 对地短路故障

7路通道配有2条故障总线

达40 A和28 V

LabVIEW实时的控制, 用于确定性操作

通过PXI背板的触发

General
Form Factor
PXI / PXI Express
PXI Bus Type
可兼容PXI混合总线
Operating System / Target
任何
Product Family
开关
Switch Type
Signal Insertion Switch
Timing / Triggering / Synchronization
Triggering
數位
Switches
Relay Type
FET
(责任编辑:rongqe) 美国仪器NI PXI-2514故障注入单元
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特别说明

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