摘要:NI PXI-2510 68通道, 2 A故障注入单元 (FIU) NI PXI-2510故障注入单元(FIU)的设计，适合硬件在环(HIL)应用和电子可靠性测试。每个模块具有一系列馈通通道，在关闭状态下使得开关对于系统是透明的。
 NI PXI-2510 68通道, 2 A故障注入单元 (FIU) NI PXI-2510故障注入单元(FIU)的设计，适合硬件在环(HIL)应用和电子可靠性测试。每个模块具有一系列馈通通道，在关闭状态下使得开关对于系统是透明的。用户可打开或中断连通两条故障总线其中一条的通道，每条故障总线的多路复用器均配备4种可能的输入。 用户可使用这种架构仿真断开或被中断的连接以及管脚之间的短路、针对电池电压的短路和针对各路通道上的对地短路。被NI LabVIEW实时模块控制时，该FIU非常适合验证控制系统的可靠性，如：引擎控制单元(ECU)、全权数字引擎控制器(FADEC)，以及更多其它需要 带动高达2A负载的应用。 仿真开路, 管脚间短路 (pin-to-pin), 对电池短路, 对地短路故障 68路通道配有2条故障总线 达2 A和150 V (最大为60 W) LabVIEW实时的控制, 用于确定性操作 通过PXI背板的触发 (责任编辑：rongqe)
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